A hallgatók megismerkednek a pásztázó elektronmikroszkópia (SEM), valamint az elektronsugaras röntgenanalízis (EPMA) elméletével, valamint gyakorlatával. A kurzus anyagát képezi az egyéb pásztázó elven működő berendezések (SPM, AFM stb.) alapelveinek és működési módjainak bemutatás is. A szemeszter alatt a hallgatóknak több alkalommal is lehetőségük nyílik az elméletben tanultak gyakorlati alkalmazására.
Students will be introduced to the theory and practice of scanning electron microscopy (SEM) and electron beam X-ray analysis (EPMA). The course also includes an introduction to the principles and methods of operation of other scanning devices (SPM, AFM, etc.). During the semester students have several opportunities to apply what they have learned in theory.
Ajánlott irodalom: Pozsgai Imre: A pásztázó elektronmikroszkópia és az elektronsugaras mikroanalízis alapjai
Literature: Joseph I. Goldstein et al.: Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis; PLENUM PRESS • NEW YORK AND LONDON (1981) ISBN-13: 978-1-4613-3275-6; DOl: 10.1007/978-1-4613-3273-2
- Oktató: Cserháti Csaba
- Oktató: Cserháti Csaba
- Oktató: Juhász Laura
- Oktató: Vecsei Gergő